產(chan)品(pin)名(ming)稱(cheng)：日本KETT LZ-373膜(mo)厚(hou)儀(yi)

本儀(yi)器采(cai)用了磁(ci)性(xing)和(he)渦(wo)流(liu)兩種測厚(hou)方法(fa)，可無損(sun)的(de)測量磁性(xing)金屬基(ji)體(ti)（如鐵、合金和(he)硬磁(ci)性(xing)鋼等）上(shang)非磁(ci)性(xing)覆層(ceng)的(de)厚(hou)度(du)（如銅(tong)、鋁、鉻(ge)、琺瑯(lang)、橡(xiang)膠、油漆等(deng)）及(ji)非磁(ci)性(xing)金屬基(ji)體(ti)（如銅(tong)、鋁、鋅、錫(xi)等(deng)）上(shang)的(de)非導(dao)電(dian)覆層(ceng)的(de)厚(hou)度(du)（如琺瑯(lang)、橡(xiang)膠、油漆、塑(su)料等）。

型號(hao)	LZ-373 （原型號(hao)LZ-370)
	電(dian)磁渦(wo)流(liu)兩用型
測定(ding)方法(fa)	電(dian)磁式(shi)                               高(gao)頻(pin)渦(wo)流(liu)式(shi)
測定(ding)對(dui)象	磁(ci)性(xing)金屬上(shang)的(de)非磁(ci)性(xing)塗(tu)鍍(du)層(ceng)          非磁(ci)性(xing)金屬上(shang)的(de)絕(jue)緣(yuan)層(ceng)
測定(ding)範(fan)圍	0-2500µm                            0-1200µm
測定(ding)精度	<50µm±1µm ， 50µm-1000µm±2%  ，1000µm-2000µm±3%
分(fen)辨(bian)率	<100µm為(wei)0.1µm  >100µm為(wei)1µm
記憶(yi)數(shu)據	大(da)約3000個
附加功能	1.程(cheng)序選擇 2.基(ji)體(ti)修(xiu)正(zheng) 3.數(shu)據刪(shan)除(chu) 4.數(shu)據統(tong)計 5.設(she)定(ding)上(shang)下限(xian) 6.數(shu)據統(tong)計（測定(ding)次數(shu) *大(da)值 *小(xiao)值(zhi) 標準偏差(cha)） 7.語(yu)言(yan)選擇（中、英、日、韓） 8.日(ri)期(qi)時間(jian) 9.自動(dong)關機(ji)設(she)定(ding) 10.背景(jing)燈(deng)光(guang)選擇 11.背景(jing)燈(deng)光(guang)的(de)時(shi)間(jian)設(she)定(ding) 12.單(dan)位 13.數(shu)據輸(shu)出
測頭	點觸式(shi)（LEP-J)/點觸式(shi)（LHP-J)
顯(xian)示(shi)方式(shi)	數(shu)字(zi)LCD顯(xian)示(shi)（背光(guang)燈(deng)可自行選擇開關）
數(shu)據輸(shu)出	電(dian)腦輸(shu)出（USB或(huo)者RS-232C)或(huo)者連(lian)接打(da)印機
電(dian)源	4節1.5V堿(jian)性(xing)電(dian)池(chi)
存儲通(tong)道(dao)	有100個通(tong)道(dao)可供選擇
尺(chi)寸重(zhong)量(liang)	75（W）×145（D）×31（H）mm 0.34Kg
標準配(pei)置	基(ji)體(ti) / 標準片 / 4節堿(jian)性(xing)電(dian)池(chi) / 測頭 / 皮套
可(ke)選配(pei)置	軟(ruan)件(jian)（LDL-03) /不同厚(hou)度(du)的(de)標準片 /臺架(jia)LW-990 /打印機VZ-330